Heavy ion beam probe diagnostic system on JFT-2M

井戸 毅*; 浜田 泰司*; 西沢 彰光*; 川澄 義明*; 三浦 幸俊; 神谷 健作*

Review of Scientific Instruments, 70(1), p.955 - 958, 1999/01

https://doi.org/10.1063/1.1149474

核融合科学研究所との協力研究により、プラズマ中の電場分布と密度揺動などを測定する重イオンビームプローブ計測装置をJFT-2Mに設置した。本装置では、重イオンビーム(タリウムイオン)のトカマクへの入口と出口で、トロイダルとポロイダル方向に掃引するビーム軌道制御が可能である。これによって観測領域をプラズマのコアからエッジにわたる領域に広げ、かつビームエネルギーの測定誤差を抑制することができる。この時、サンプルボリュームの発散または多重サンプルボリュームが現れ、これらの現象が較正に悪影響を及ぼすことが危惧された。しかし軌道計算の結果からはそれらのポテンシャル計測に対する較正には悪影響はなく、逆にそれらはある特定のパラメータ領域に現れるので、これを用いて軌道計算と実験データの比較が容易になることが示された。